Измерение и контроль
Измерение детали на координатно-измерительной машине (КИМ) — это процесс, при котором машина фиксирует координаты точек на поверхности изделия и вычисляет реальные размеры, форму, ориентацию и расположение поверхностей детали. КИМ применяется в машиностроении, аэрокосмической и автомобильной промышленности там, где допуски исчисляются единицами микрометров
Координатно-измерительная машина (КИМ) — высокоточное оборудование для трёхмерного контроля геометрии деталей. Оно позволяет измерять координаты точек объекта по трём осям (X, Y, Z) и на основе этих данных определять размеры, форму и положение объекта.
КИМ применяется в машиностроении, аэрокосмической и автомобильной промышленности там, где допуски исчисляются единицами микрометров.
Принцип работы
Процесс измерения на КИМ включает несколько этапов:
- Сбор координат. Измерительная головка перемещается над деталью по программируемой траектории. В каждой контрольной точке щуп касается поверхности изделия — или оптическая система фиксирует её положение бесконтактно. В момент срабатывания датчика машина записывает три значения: X, Y, Z.
- Математическая обработка. Программное обеспечение КИМ аппроксимирует облако точек до геометрических примитивов: плоскостей, цилиндров, конусов, сфер. Затем вычисляет действительные размеры, отклонения формы (плоскостность, цилиндричность) и расположения (перпендикулярность, соосность).
- Сравнение с CAD-моделью. Результаты измерений накладываются на номинальную геометрию из CAD-файла. Отклонения отображаются в виде цветовой карты или таблицы. Оператор видит, какие элементы вышли за пределы допуска, и принимает решение о годности детали.
Координатно-измерительная машина Mitutoyo CRYSTA-APEX V5
Краткие характеристики:- Диапазон измерений X:500 Y:700 Z:400 мм.
- Точность 1,7 + 3L/1000 мкм
- Повторяемость 1,3 мкм
- Макс. скорость перем-я по каждой оси 8–300 мм/с.
- Максимальная скорость измерения 8 мм/с.
- Функция Сканирование.
- Высокоточный сканирующий датчик SP25M
Микроскоп Mahr MarVision MM 320
Краткие характеристики:- Диапазон измерений X/Y 250/170 мм
- Перемещение по оси Z 200 мм
- Габариты измерительного стола 420 х 280 мм
- Максимальная нагрузка стола 20 кг
- Измерительная система встроенная инкрементная шкала
- Шаг дискретности 0,001 мм
- Предел.доп.погр. Е1 X/Y 1,9+(L/100) L в мм
- Предел.доп.погр. Е2 X/Y 2,9+(L/100) L в мм
- Рабочее расстояние микроскопа 85 мм
- Макс. высота контр-ой детали 90 мм
- Освещение LED
- Лазерный указатель
- Цветная CCD-камера с разрешением 1,4 Мп
УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ
Краткие характеристики:- Максимальная нагрузка 4 кг
- Технология Бесконтактный, оптический, трехмерный
- Поворотный стол 360° 180мм х 134 мм х 77 мм
- Погрешность шага по высоте (1 мм) 0,1%
- Макс. измеряемая область 2500 мм2
- Мин. измеряемая шероховатость (Ra) 0,45 мкм